Caractérisation microstructurale des matériaux. Analyse par les rayonnements X et électronique

Esnouf Claude
PU POLYTECHNIQU
69,00 €
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EAN : 9782880748845

Cet ouvrage présente de façons exhaustive et pédagogique les bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matériaux basées sur l'utilisation des rayonnements X et électronique. Rédigé par l'un des meilleurs spécialistes francophones du domaine, les six chapitres de cet ouvrage couvrent l'ensemble de la discipline, depuis l'exposé du langage spécialisé de la cristallographie jusqu'aux méthodes fines impliquant les grands instruments scientifiques. Les méthodes basées sur l'usage du rayonnement X et du rayonnement électronique et mettant en oeuvre la diffraction ou l'imagerie sont exposées en détail, tout comme les nombreux modes d'imagerie électronique. Un chapitre entier est par ailleurs dévolu à la présentation des spectroscopies utiles tant à la caractérisation d'ordre chimique que celle d'ordre structural. Illustré de nombreux exemples et d'exercices résolus, ce manuel constitue une véritable référence pour les étudiants de second cycle d'écoles d'ingénieur, de Master, ainsi que pour les praticiens désireux d'approfondir leurs connaissances dans le domaine.

Commandé avant 16h, livré demain
Nombre de pages 579
Date de parution 01/09/2011
Poids 1 190g
Largeur 160mm
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EAN 9782880748845
Titre Caractérisation microstructurale des matériaux. Analyse par les rayonnements X et électronique
Auteur Esnouf Claude
Editeur PU POLYTECHNIQU
Largeur 160
Poids 1190
Date de parution 20110901
Nombre de pages 579,00 €

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